DSP-STC2258型多功用阿拉伯数字式四检测器測試仪
一、简析
&nbs🤪p; DSP-STC2258型多功效大数字式四检测器测验英文仪是结合四检测器测量做法做法道理测验英文阻值功率值率/方阻的好种类整合测量做𒊎法做法仪器设备设备。该仪器设备设备设计的概念适合GB/T 1551-2009 《硅多晶硅体体阻值功率值率检验做法》、GB/T 1551-1995《硅、锗多晶硅体体阻值功率值率检验交流电两检测器法》、GB/T 1552-1995《硅、锗多晶硅体体阻值功率值率检验交流电四检测器法》并学习意大利 A.S.T.M 规范标准。
机器设备一整套的组合成:由主机设备、选择的四测试软件探针摄像头、测试软件台等部份组合而成。
设备主机核心由精密铸造恒流源、拿高分别率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参⛎数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入。更具零位、满度自校基本功能、直流电压直流电压全变频切换示值、测量结论由数码表头马上凸显。本测量仪特赠设测量结论的分类别功能表,大的分类别10类。
传感器配置:随着不一的原素材性ꦓ能需求,摄像头有许多款选型。有高防腐蚀增碳钨感应器摄像头,以检查硅类半导、废金属、导电塑胶片类等硬性的原素材的内阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
检测台标配:正常四探头法测式热෴敏电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B🥂或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选用SZT-G🌜型测试台测试橡෴塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
议器都具有自动测量要求高、机灵度更高、强度处理高性好、智慧化层度更高、组成紧奏型、选用简易等亮点。
实验仪🌠器支持于光电元器件封装物料厂元器件封装厂、研究机构、高等专科学校专科大学对导体、光电元器件封装、类光电元器件封装物料的导电能的测试英文。
二、最基本技术性参数值
1.精确测量领域、辨别率(括号内为需经下开拓8个数目级)
电阻:10.0×10-6~200.0×103Ω,分辨率:1.0×10-6~0.1×103Ω
(1.0×10-6~20.00×103Ω,分辨率:0.1×10-6~0.01×103Ω)
电阻率:10.🌳0🍌×10-6~200.0×103Ω-cm,分辨率:1.0×10-6~0.1×103Ω-cm
&nbs🐓p; (1.0×10-6~20.00×103Ω-cm,分别率:0.1×10-6~0.01×103Ω-cm)
方块热敏电阻:50.0×✅10-6~1.0×106Ω/□,辨别率5.0×10-6~0.5×103Ω/□
&nꦕbsp; (5.0×10-6~100.0×103Ω/□,辨别率0.5×10-6~0.1×103Ω/□)
2.材料大小(由选装测试软件测试软件台和测试软件测试软件方案打算)
直徑:SZT-A圆测试台直接测试方式Φ15~130mm,手持方式不限。
SZT-B/C/F方试验台之间试验习惯英文180mm×180mm,手执习惯英文不限。
长(高)度:检测台一直检测的方法H≤100mm,手提式手段不限。
測量地方:轴上、径向均可。
3.满量程区划及计算误差级别为
满度显示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 |
常规量程 | kΩ-cm/□ | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | --- | ||||
大拓展量程 | --- | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | mΩ-cm/□ | ||||
基本误差 | ±2%FSB ±4LSB | ±1.5%FSB ±4LSB | ±0.5%FSB±2LSB | ±0.5%FSB ±4LSB | ±1.0%FSB ±4LSB | ||||
4.做工作主机电源:220V±10%,f=50Hz±4%,PW≤5W
5.外观尽寸:245mm(长)×220mm(宽)×95mm(高)
净重量:≤1.5~2.0kg